Čes. stomatol. Prakt. zub. lék. (Czech Dental Journal) 2004; 104(5): 180-185
AFM vyšetření dentinového povrchu (Naše zkušenosti)
- 1 I. stomatologická klinika LF UP a FN Olomouc, přednostka doc. MUDr. J. Stejskalová, CSc.
- 2 Katedra experimentální fyziky PřF UP, Olomouc, vedoucí katedry doc. RNDr. R. Kubínek, CSc.
Mikroskopie atomárních sil - AFM (Atomic Force Microscopy) je jednou z technik Mikroskopie skenující (rastrující) sondou, používaných k zobrazování struktury povrchů. Je založena na mapování rozložených atomárních sil na povrchu zkoumaného vzorku. AFM poskytuje věrný topografický trojrozměrný obraz povrchu s rozlišením až atomárním. Kromě fyziky a chemie povrchů je metoda použitelná i v biologických oborech. Speciální úprava skeneru AFM umožňuje sledovat biologické vzorky v kapalných prostředcích. Tím se lze vyhnout celé řadě artefaktů způsobených dehydratací. Je známo, že dentin lidských zubů je excesivně citlivý na odvodnění a vysušení, které je používáno při standardní přípravě vzorků pro vyšetření v SEM (Scanning Electron Microscopy). V této práci popisujeme naše zkušenosti s vyšetřením dentinového povrchu extrahovaných třetích molárů s pomocí AFM za vlhkých podmínek.
Klíčová slova: Mikroskopie atomárních sil (AFM); dentin; smear layer
AFM Examination of the Dentin Surface (Our Experience)
Microscopy of atomic forces - AFM (Atomic Force Microscopy) belongs to techniques of microscopy scanning by a probe, which are used for imaging structure of surfaces. It is based of mapping the distribution of atomic forces on the surface of the sample underinvestigation. AFM provides a true to topographic three-dimensional picture of the surface with up to atomic discrimination. In addition to physics and chemistry of the surfaces the methodis also applicable in biological disciplines. A special adjustment of the AFM scanner makes it possible to follow biological samples in liquid media. It makes it possible to exclude various artifacts caused by dehydration. The dention of human teeth is known to be excessively sensitive to dehydration and exsiccation, which is used the standard preparation of samples for the examination in SEM (Scanning Electron Microscopy). The paper describes our experience in the examination of the dentin surface in extracted third molars by means of AFM under wet conditions.
Keywords: Atomic Force Microscopy; dentin; smear layer
Zveřejněno: 1. prosinec 2004 Zobrazit citaci
Tento článek je publikován v režimu tzv. otevřeného přístupu k vědeckým informacím (Open Access), který je distribuován pod licencí Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License (CC BY-NC 4.0), která umožňuje nekomerční distribuci, reprodukci a změny, pokud je původní dílo řádně ocitováno. Není povolena distribuce, reprodukce nebo změna, která není v souladu s podmínkami této licence.